INSIGHT Desktop-Röntgenfluorescenzdickenmesser

INSIGHT ist ein effektives und präzises Werkzeug, das speziell für die Beschichtungsanalyse entwickelt wurde. Es ist einfach zu bedienen und flexibel zu konfigurieren, um die Herausforderungen der Prüfung von ultradünnen Beschichtungen zu bewältigen und Analyseergebnisse schnell, genau und wiederholbar zu liefern. Es wird in der Elektronikindustrie wie PCB und Halbleiter weit verbreitet und hilft Unternehmen, ihre Produktivität zu steigern, die Konformität der Produkte zu gewährleisten und Kostenrisiken durch schlechte Leistung, Abfall oder Wiederverarbeitung zu vermeiden.

Multi-Straightener-Komponenten

Die optionale automatische Umschaltung mit mehreren Straightenkombinationen ermöglicht eine deutliche Verbesserung der Vielseitigkeit von INSIGHT, um flexibel auf Teile unterschiedlicher Größen zu reagieren.

Oberbilddesign

Das Gerät ist aufgebaut, um eine schnelle, präzise und effiziente Messung von übergroßen, unregelmäßigen, kleinen Teilen und sogar flüssigen Proben zu ermöglichen.

Hochfeste Röntgenröhre

INSIGHT ist mit einem optischen System mit hoher Intensität erhältlich, das eine höhere Zählrate, eine kleinere Punktmessung und eine dünnere Beschichtungsmessung für das Instrument ermöglicht, um die Analyseeffizienz des Instruments zu verdoppeln.

Programmierbare automatische Verschiebungsprobe

Die optionale Automatisierungsplattform ermöglicht die einfache Automatisierung der Messung und ermöglicht die schnellere Vorbereitung und Messung von Proben, was die Analyse erhöht.

Ein-Klick-Messung

Mit einer intuitiven und intelligenten Analysesoftware ist die Bedienung einfach und jeder kann Proben ohne Schulung testen, indem er einfach auf „Test starten“ klickt und die Ergebnisse in zehn Sekunden erhält.

Steigerung der Produktivität

Mit der Automatisierung von INSIGHT können Sie Ihre Proben schneller messen und damit Ihre Analyse verbessern.

Großer Messraum

Die Schlitzkonstruktion des Gerätegehäuses (C-Schlitz) ermöglicht einen großen Messraum und eine bequeme Probenplatzierung. Große und flache Gegenstände wie gedruckte Leiterplatten können gemessen werden oder große Proben mit komplexen Formen platziert werden.

Hochempfindliche Detektoren

Bei komplexen Beschichtungsstrukturen können Detektoren der SDD-Serie Elemente mit ähnlichen XRF-Eigenschaften leichter analysieren, eine bessere Auflösung, geringeres Hintergrundgeräusch (höchstes S/N-Verhältnis) bieten und dünnere Beschichtungen genauer messen.

Autofokussierung

Unabhängig von der Dicke oder Größe der Probe kann die Probe innerhalb weniger Sekunden automatisch fokussiert werden. Die Proben können in Entfernungen von bis zu 80 mm gemessen werden und eignen sich ideal für die Messung von Teilen mit Vertiefungsbereichen oder für die Messung mehrerer Proben in unterschiedlichen Höhen.